金融界2024年12月18日消息,国家知识产权局信息显示,杭州芯迈半导体技术有限公司申请一项名为“一种功率器件的测试电路及测试系统”的专利,公开号CN 119125817 A,申请日期为2024年5月。
专利摘要显示,本申请公开了一种测试电路,包括第一辅助器件和第二辅助器件。第一辅助器件具有第一端耦接至电源电压端,具有第二端耦接至测试连接端。第二辅助器件具有第一端耦接至测试连接端,具有第二端耦接至地。第一辅助器件可并联至第一待测器件,第二辅助器件可并联至第二待测器件。第一辅助器件在第一待测器件进行导通动作时保持导通状态。第二辅助器件在第二待测器件进行导通动作时保持导通状态。本申请提供的测试电路,使待测器件零电压通断,降低了待测器件的开关损耗,减少了待测器件的自发热,从而使待测器件的测试环境符合要求。
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