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芯迈半导体申请一种功率器件的测试电路及测试系统专利降低待测器件开关损耗_CQ9电子中国官方网站
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芯迈半导体申请一种功率器件的测试电路及测试系统专利降低待测器件开关损耗

作者:小编    发布时间:2024-12-18 16:49:04    浏览量:

  金融界2024年12月18日消息,国家知识产权局信息显示,杭州芯迈半导体技术有限公司申请一项名为“一种功率器件的测试电路及测试系统”的专利,公开号CN 119125817 A,申请日期为2024年5月。

  专利摘要显示,本申请公开了一种测试电路,包括第一辅助器件和第二辅助器件。第一辅助器件具有第一端耦接至电源电压端,具有第二端耦接至测试连接端。第二辅助器件具有第一端耦接至测试连接端,具有第二端耦接至地。第一辅助器件可并联至第一待测器件,第二辅助器件可并联至第二待测器件。第一辅助器件在第一待测器件进行导通动作时保持导通状态。第二辅助器件在第二待测器件进行导通动作时保持导通状态。本申请提供的测试电路,使待测器件零电压通断,降低了待测器件的开关损耗,减少了待测器件的自发热,从而使待测器件的测试环境符合要求。

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